规格/型号：JSM6010PLUS放置地点：分析测试中心-011室
负责人1：高淑娟 电 话：13903588724
负责人2：任宏瑞 电 话：18334832134
仪器简介：
1.性能指标：
EDS：布鲁克30mm双探测器（分辨率123eV）；
EBSD：定向背散射电子探测器；
高分辨红外CCD；
气体二次电子探测器；
超高真空系统、高真空/低真空系统、压差光镧。
支持环境模式；
分辨率：扫描电子显微镜：3-8nm；
冷场扫描电子显微镜：0.8-1.2nm。
2.主要应用：
扫描电子显微镜主要用于对材料形貌/尺寸进行观察并分析，对带有镀层的材料膜层分析、对材料微区进行EDS元素分析（定性、定量、线分布、面分布、超级面分布）、细胞观察，同时在对材料进行失效分析时进行元素测定、金相分析等。广泛用于材料、化学、生物、医学、地质等领域。
